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Publicação
Desenvolvimento de um sistema para a medição do efeito electroóptico
| Nome: | Descrição: | Tamanho: | Formato: | |
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Orientador(es)
Resumo(s)
Foi desenvolvido um sistema para a medição do efeito electróptico em meios
ópticos com propriedades de óptica não-linear. O sistema baseia-se numa técnica
interferométrica implementada através de um interferómetro de Michelson funcionando
em modo de transmissão, no qual se mede a diferença de fase entre os
ramos do interferómetro gerada pelo efeito electróptico numa amostra onde é
aplicado um potencial elétrico. O coeficiente electróptico a ser medido, pode ser
escolhido pela aplicação do sinal eléctrico de uma amostra na direção adequada
bem como do alinhamento desta num porta-amostras. O sistema foi calibrado
usando um cristal com propriedades ópticas não-lineares padrão, o fosfato de
dihidrogénio e potássio, tendo sido utilizado o coeficiente electróptico r63 como
referência. O valor medido experimentalmente foi de 10;5 0;2pm=V , pelo que o
valor tabelado se encontra dentro desta medida. A bancada óptica implementada
revelou também estabilidade no que diz respeito ao ruído ambiente. Este sistema
será utilizado no futuro para a medição de coeficientes electrópticos em filmes
finos poliméricos, que contenham cromóforos com polarizabilidades electrónicas
não-lineares elevadas.
Descrição
Palavras-chave
Óptica Efeito electroóptico Modulação de luz Interferómetria Interferómetro de Michelson