1. RUN

Percorrer por autor Moutinho, A. M. C.

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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
15-Jan-2012An upgraded TOF-SIMS VG Ionex IX23LS: Study on the negative secondary ion emission of III-V compound semiconductors with prior neutral cesium depositionGhumman, C. A. A.; Moutinho, A. M. C.; Santos, A.; Teodoro, O. M. N. D.; Tolstogouzov, A.articleopenAccess
1-Jan-2010Characterisation of Ti/Al multilayered structures with slow positron beams applying a simplified positron depth distribution modelNaia, M. Duarte; Gordo, P. M.; Teodoro, O. M. N. D.; Lima, A. P. de; Moutinho, A. M. C.conferenceObjectopenAccess
1-Jan-2002Characterization of a barium surface by AES, XPS and SIMSTeodoro, O. M. N. D.; Moutinho, A. M. C.articleopenAccess
28-Nov-2001Compact gate valve for UHVTeodoro, O. M. N. D.; Moutinho, A. M. C.articleopenAccess
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