Percorrer por autor Salgueiro, Daniela
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| Data | Título | Autor(es) | Tipo | Acesso |
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| Jun-2015 | Operational stability of solution based zinc tin oxide/SiO2 thin film transistors under gate bias stress | Kiazadeh, Asal; Salgueiro, Daniela; Branquinho, Rita; Pinto, Joana; Gomes, Henrique L.; Barquinha, Pedro; Martins, Rodrigo; Fortunato, Elvira | article |  |
