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http://hdl.handle.net/10362/3306
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| Title: | Microscopia de varrimento por sonda (SPM) |
| Authors: | Limão-Vieira, P.
Gonçalves, M. R.
Ribeiro, J. H. F. |
| Issue Date: | 1995 |
| Publisher: | Gazeta da Física |
| Abstract: | A invenção do Microscópio de Efeito de Túnel (Scanning Tunneling Microscope)
em 1981, por G. Binnig e H. Rohrer, seguida do aparecimento do Microscópio de
Força Atómica, em 1986, conduziu ao desenvolvimento de um conjunto de novas técnicas
de microscopia, genericamente designadas por Microscopias de Varrimento por
Sonda (Scanning Probe Microscopy ou SPM). Os avanços conseguidos com este tipo de
micróscopia, associada a outras técnicas, deram origem a uma nova área de engenharia,
fortemente interdisciplinar: a Nano-Engenharia. Neste artigo, é analisado o funcionamento
de alguns tipos de microscópios SPM e suas aplicações. |
| Description: | Gazeta da Física • VOL. 18 • Fascículo 4 |
| URI: | http://hdl.handle.net/10362/3306 |
| Appears in Collections: | FCT: CEFITEC - Artigos em revista internacional com arbitragem científica
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