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Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10362/3306

Título: Microscopia de varrimento por sonda (SPM)
Autor: Limão-Vieira, P.
Gonçalves, M. R.
Ribeiro, J. H. F.
Issue Date: 1995
Editora: Gazeta da Física
Resumo: A invenção do Microscópio de Efeito de Túnel (Scanning Tunneling Microscope) em 1981, por G. Binnig e H. Rohrer, seguida do aparecimento do Microscópio de Força Atómica, em 1986, conduziu ao desenvolvimento de um conjunto de novas técnicas de microscopia, genericamente designadas por Microscopias de Varrimento por Sonda (Scanning Probe Microscopy ou SPM). Os avanços conseguidos com este tipo de micróscopia, associada a outras técnicas, deram origem a uma nova área de engenharia, fortemente interdisciplinar: a Nano-Engenharia. Neste artigo, é analisado o funcionamento de alguns tipos de microscópios SPM e suas aplicações.
Descrição: Gazeta da Física • VOL. 18 • Fascículo 4
URI: http://hdl.handle.net/10362/3306
Appears in Collections:FCT: CEFITEC - Artigos em revista internacional com arbitragem científica

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