http://hdl.handle.net/10362/425 CEFITEC 2013-06-18T22:59:12Z http://hdl.handle.net/10362/3347 Title: Electron and photon induced processes in SF5CF3 Authors: Limão-Vieira, P.; Kendall, P.A; Eden, S.; Mason, N.J.; Heinesch, J.; Hubin-Franskin, M.J.; Delwiche, J.; Giuliani, A. Abstract: The photo-absorption cross section of trifluoromethyl sulphur pentafluoride, SF5CF3 has been measured using synchrotron radiation in the range of 4–11 eV (310 nm > l > 110 nm) and comparison made with electron energy loss spectroscopy (EELS). The measured VUV cross sections are used to derive the photolysis rate of SF5CF3 in the terrestrial atmosphere. It is estimated that the lifetime for this molecule is the order of a 1000 years and the calculated global warming potential (GWP) is found to be between 17000 and 18100, making it one of the most potent global warming gases in the terrestrial atmosphere. 2003-09-01T00:00:00Z http://hdl.handle.net/10362/3306 Title: Microscopia de varrimento por sonda (SPM) Authors: Limão-Vieira, P.; Gonçalves, M. R.; Ribeiro, J. H. F. Abstract: A invenção do Microscópio de Efeito de Túnel (Scanning Tunneling Microscope) em 1981, por G. Binnig e H. Rohrer, seguida do aparecimento do Microscópio de Força Atómica, em 1986, conduziu ao desenvolvimento de um conjunto de novas técnicas de microscopia, genericamente designadas por Microscopias de Varrimento por Sonda (Scanning Probe Microscopy ou SPM). Os avanços conseguidos com este tipo de micróscopia, associada a outras técnicas, deram origem a uma nova área de engenharia, fortemente interdisciplinar: a Nano-Engenharia. Neste artigo, é analisado o funcionamento de alguns tipos de microscópios SPM e suas aplicações. Description: Gazeta da Física • VOL. 18 • Fascículo 4 1995-01-01T00:00:00Z